2 月 29 日消息，消息芯片據韓媒 Chosunbiz 報道，稱星測試三星電子近日在背面供電網絡（BSPDN）芯片測試中獲得了好于預期的背面成果，有望提前導入未來制程節點。供電

　　傳統芯片采用自下而上的結果制造方式，先制造晶體管再建立用于互連和供電的良好線路層。但隨著制程工藝的有望收縮，傳統供電模式的提前線路層越來越混亂，對設計與制造形成干擾。導入

　　BSPDN 技術將芯片供電網絡轉移至晶圓背面，消息芯片可簡化供電路徑，稱星測試解決互連瓶頸，背面減少供電對信號的供電干擾，最終可降低平臺整體電壓與功耗。結果對于三星而言，良好還特別有助于移動端 SoC 的小型化。


　　▲ BSPDN 背面供電網絡示意圖。圖源 imec

　　參考韓媒報道，三星電子在測試晶圓上對兩種不同的 ARM 內核設計進行了測試，在芯片面積上分別減小了 10% 和 19%，同時還獲得了不超過 10% 的性能、頻率效率提升。

　　Chosunbiz 稱，三星此前考慮在 2027 年左右的 1.7nm（IT之家注：此處存疑，以往報道中為 1.4nm）工藝中實現背面供電技術的商業化，但由于目前超額完成了開發目標，預計將修改路線圖，最早在明年推出的 2nm 中應用。

　　三星電子的兩大競爭對手臺積電和英特爾也積極布局背面供電領域：其中英特爾將于今年的 20A 節點開始推出其 BSPDN 實現 PowerVia；而根據科技博客 More Than Moore 消息，臺積電預計將在 2025 年推出標準 N2 節點后 6 個月左右發布對應的背面供電版本。


　　▲ 臺積電未來技術路線圖。圖源科技博客 More Than Moore

(責任編輯：知識)